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產品詳情
簡單介紹：
ATX210覆層測厚儀是磁性、渦流一體的便攜式覆層測厚儀，它能快速、無損傷、精密地進行涂、鍍層厚度的測量； ATX210覆層測厚儀既可用于實驗室，也可用于工程現場；廣泛地應用在制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域；是材料保護專業必備的儀器。
詳情介紹：
ATX210覆層測厚儀概述
ATX210覆層(ceng)(ceng)測(ce)厚儀是磁性、渦流一(yi)體(ti)的便攜(xie)式數字覆層(ceng)(ceng)測(ce)厚儀，它(ta)能快速(su)、無(wu)損(sun)傷、精密地(di)進行涂、鍍層(ceng)(ceng)厚度的測(ce)量；既可用于實驗室，也可用于工程現場；廣泛地(di)應用在(zai)制造業、金屬加工業、化工業、商檢(jian)(jian)等檢(jian)(jian)測(ce)領域(yu)；是材料保護(hu)專業必(bi)備的儀器。
ATX210覆層測厚儀符合以下標準：
- GB/T4956-1985 磁性方法
- GB/T4957-1985 渦流方法
- JB/T8393-1996 磁(ci)性和渦流覆層(ceng)測厚儀
- JG889-95 《磁(ci)阻法測(ce)厚儀》
-
JJG818-93 《電渦流(liu)式測厚儀》
ATX210覆層測厚儀功能特點
- 采用了磁性和渦流(liu)兩種(zhong)測厚(hou)方法，可無損地(di)測量(liang)
1.磁(ci)性(xing)金屬基體(如鋼、鐵、合金等)上非磁(ci)性(xing)覆層(ceng)厚度(如鋅、鋁(lv)、鉻(ge)、銅(tong)、橡(xiang)膠(jiao)、油漆(qi)等)
2.非(fei)磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非(fei)導電覆(fu)層(ceng)厚度(如:橡膠、油(you)漆、陽極氧化膜等)
- 具有兩種測(ce)量(liang)(liang)方(fang)式：連(lian)續測(ce)量(liang)(liang)方(fang)式（CONTINUE）和單次測(ce)量(liang)(liang)方(fang)式（SINGLE）
- 具有兩種工作方(fang)式(shi)：直接方(fang)式(shi)(DIRECT)和成組方(fang)式(shi)(Appl)
- 設有五(wu)個統計(ji)量(liang)：平(ping)均值、最大(da)值（MAX）、最小值（MIN）、測(ce)試次數（NO．）、標準偏差
- 可采用(yong)兩種方法對(dui)儀(yi)器(qi)進行校準,并可用(yong)基本校準法對(dui)測頭(tou)的系統誤差(cha)進行修(xiu)正
- 具有存貯功能：可存貯100 個測量值
- 具(ju)有刪除(chu)功能(neng)：對(dui)測(ce)量(liang)中出(chu)現的單個可(ke)疑數(shu)據進行刪除(chu)，也(ye)可(ke)刪除(chu)存(cun)貯區內(nei)的所有數(shu)據
- 可(ke)(ke)設置限(xian)界：對限(xian)界外的測量(liang)(liang)值能自動報警；并可(ke)(ke)用直方圖對一批測量(liang)(liang)值進行(xing)分(fen)析
- 具有電源(yuan)欠壓指示功能(neng)
- 操作過程有蜂鳴聲提示
- 具有錯(cuo)誤(wu)提(ti)示(shi)功能，通過屏(ping)顯或(huo)蜂鳴(ming)聲進行錯(cuo)誤(wu)提(ti)示(shi)
-
設有兩種關機方式(shi)(shi)：手動(dong)(dong)關機方式(shi)(shi)和自(zi)動(dong)(dong)關機方式(shi)(shi)
ATX210覆層測厚儀技術參數
- 測頭(tou)類型：F | N
- 測量(liang)原理：磁感應 | 電(dian)渦流
- 測量(liang)范圍：0-1500um | 0-1500um 0-40um(銅上鍍鉻)
- 低(di)限分辨力：0.1um
- 探頭連接方式：一(yi)體(ti)化
- 示(shi)值誤差：F | N
1.一點(dian)校準(zhun)(um)：±[2%H+1]
2.兩(liang)點校準(um)：±[（1%~3%）H+1]
3.一點校(xiao)準(zhun)(um)：±[2%H+1.5]
4.兩點校準(zhun)(um)：±[（1%~3%）H+1.5]
2.兩(liang)點校準(um)：±[（1%~3%）H+1]
3.一點校(xiao)準(zhun)(um)：±[2%H+1.5]
4.兩點校準(zhun)(um)：±[（1%~3%）H+1.5]
- 測量條(tiao)件：F | N
1.最小曲率半徑(jing)(mm)：凸1.5 | 凹9
2.基(ji)體最小面積的直徑(mm)：ф7
3.最小臨界厚度(du)(mm)：0.5
4.最(zui)小曲率半徑(mm)：凸3 | 凹(ao)10
5.基體最小(xiao)面(mian)積的直徑(jing)(mm)：ф5
6.最小臨界厚度(mm)：0.3
2.基(ji)體最小面積的直徑(mm)：ф7
3.最小臨界厚度(du)(mm)：0.5
4.最(zui)小曲率半徑(mm)：凸3 | 凹(ao)10
5.基體最小(xiao)面(mian)積的直徑(jing)(mm)：ф5
6.最小臨界厚度(mm)：0.3
- 溫濕度：0~40℃ | 20%RH～90%RH
- 統計(ji)功能：平(ping)均值、最(zui)大值（MAX）、最(zui)小值（MIN）、測試次數（NO．）、標準(zhun)偏差
- 工作方式：直接(jie)方式(DIRECT)和成(cheng)組方式(Appl)
- 測量方(fang)(fang)式：連(lian)續測量方(fang)(fang)式（CONTINUE）和單次測量方(fang)(fang)式（SINGLE）
- 上(shang)下(xia)限設置：有
- 存儲能力(li)：100個測量值
- 關機方式：手(shou)動和自動
- 電 源(yuan)：二節AAA型（7號）電池
- 外(wai)形(xing)尺(chi)寸(cun)：110×50×23mm
- 重 量：100g
ATX210覆層測厚儀基本配置
- ATX210覆層(ceng)測厚儀主機
- 鐵(tie)基(ji)體和鋁基(ji)體
- 標準片(pian)一套|五片(pian)
- 二(er)節(jie)AA型（5號）1.5V電池(chi)
- 使用說明書
ATX210覆層測厚儀可選附件
- 時代(dai)覆層測(ce)厚(hou)儀選型表