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  •  影響漆膜測厚儀測量準確性的因素 影響漆膜測(ce)厚儀測(ce)量(liang)準確(que)性(xing)(xing)的(de)因素a) 基(ji)(ji)體(ti)金屬磁(ci)性(xing)(xing)質磁(ci)性(xing)(xing)法測(ce)厚受基(ji)(ji)體(ti)金屬磁(ci)性(xing)(xing)變化(hua)的(de)影響(在(zai)實際應用中,低碳鋼磁(ci)性(xing)(xing)的(de)變化(hua)可以(yi)認(ren)為是輕微的(de)),為了避免熱(re)處理(li)和冷加工因素的(de)影響,應使用與試件基(ji)(ji)體(ti)金屬具有相(xiang)同性(xing)(xing)質的(de)標準片(pian)對儀器進行校準;亦可用待(dai)涂(tu)覆試件進行校準。b)基(ji)(ji)體(ti)...
  •  時代覆層測厚儀故障代號的含意及解決方法 時(shi)代覆層測(ce)(ce)厚儀故障代號(hao)的含意及(ji)解(jie)決方法(fa)E02測(ce)(ce)頭或(huo)儀器(qi)損(sun)壞(huai)(huai) 解(jie)決辦(ban)法(fa):修(xiu)(xiu)理(li)測(ce)(ce)頭或(huo)儀器(qi)E03測(ce)(ce)頭或(huo)儀器(qi)損(sun)壞(huai)(huai) 解(jie)決辦(ban)法(fa):修(xiu)(xiu)理(li)測(ce)(ce)頭或(huo)儀器(qi),應采(cai)用(yong)輔(fu)(fu)助(zhu)(zhu)E04測(ce)(ce)量值發生大(da)的波動(例如(ru)在(zai)軟覆蓋層上測(ce)(ce)量時(shi));磁場影響解(jie)決辦(ban)法(fa):在(zai)軟質覆蓋層上測(ce)(ce)量時(shi)應采(cai)用(yong)輔(fu)(fu)助(zhu)(zhu)裝置進行測(ce)(ce)量...
  • 紅外線測溫儀原理和選型  紅(hong)外(wai)線測溫儀(yi)原理和(he)選(xuan)型了解(jie)更(geng)多(duo)關于紅(hong)外(wai)及紅(hong)外(wai)測溫儀(yi)產(chan)品知識,以便更(geng)好的(de)了解(jie)非(fei)接觸測量(liang)的(de)原理及優勢。紅(hong)外(wai)測溫儀(yi)工作原理-紅(hong)外(wai)測溫儀(yi)由光(guang)(guang)學系統,光(guang)(guang)電(dian)探(tan)測器,信(xin)號(hao)大(da)器及信(xin)號(hao)處理.顯示輸出等部分(fen)組(zu)成。光(guang)(guang)學系統匯聚(ju)其(qi)視場內的(de)目標(biao)紅(hong)外(wai)輻射能(neng)量(liang),紅(hong)外(wai)能(neng)量(liang)聚(ju)焦在光(guang)(guang)電(dian)探(tan)測器上并...
  •  表面粗糙度的基本知識 一、表(biao)面(mian)粗糙度的(de)概念表(biao)面(mian)粗糙度是(shi)指加工(gong)表(biao)面(mian)具有的(de)較(jiao)小間距和(he)微小峰谷(gu)的(de)不平度。其(qi)兩波(bo)峰或兩波(bo)谷(gu)之間的(de)距離(波(bo)距)很(hen)小(在1mm以下),它屬(shu)于微觀(guan)幾何形狀誤差。
  •  涂層測厚儀的分類以及測量原理 涂層(ceng)(ceng)(ceng)測厚儀(yi)的(de)(de)分類以及(ji)測量(liang)(liang)原理 對材(cai)料表面保護、裝飾形成的(de)(de)覆(fu)蓋(gai)層(ceng)(ceng)(ceng),如涂層(ceng)(ceng)(ceng)、鍍層(ceng)(ceng)(ceng)、敷層(ceng)(ceng)(ceng)、貼(tie)層(ceng)(ceng)(ceng)、化學生成膜等,在有關國家和國際標準中稱為(wei)覆(fu)層(ceng)(ceng)(ceng)(coating)。 覆(fu)層(ceng)(ceng)(ceng)厚度測量(liang)(liang)已成為(wei)加工工業、表面工程質量(liang)(liang)檢(jian)測的(de)(de)重要一環,是產品(pin)達到優(you)等質量(liang)(liang)標準的(de)(de)必(bi)備手(shou)段。為(wei)使產品(pin)...
  •  涂層測厚儀的電渦流測量原理 高(gao)頻交(jiao)流信號在測(ce)(ce)頭(tou)線圈(quan)中產(chan)生(sheng)電(dian)磁(ci)場,測(ce)(ce)頭(tou)靠近導(dao)體(ti)(ti)時,就(jiu)(jiu)在其(qi)中形成渦流。測(ce)(ce)頭(tou)離導(dao)電(dian)基體(ti)(ti)愈(yu)近,則渦流愈(yu)大(da),反射阻抗也愈(yu)大(da)。這個反饋作用量表征了測(ce)(ce)頭(tou)與導(dao)電(dian)基體(ti)(ti)之(zhi)間距離的大(da)小,也就(jiu)(jiu)是導(dao)電(dian)基體(ti)(ti)上非(fei)導(dao)電(dian)覆(fu)層厚度(du)的大(da)小。由(you)于這類(lei)測(ce)(ce)頭(tou)專門測(ce)(ce)量非(fei)鐵磁(ci)金屬(shu)基材(cai)上的覆(fu)層厚度(du),所...
  •  表面粗糙度儀工作原理  表(biao)面粗糙(cao)度(du)儀工作原理(li)當鐵(tie)芯(xin)處于差動電(dian)感線圈的(de)(de)中間位(wei)置時,指零(ling)(ling)表(biao)指針指示出(chu)零(ling)(ling)位(wei),即保證處于電(dian)感變化的(de)(de)線性范圍之(zhi)內。所以,在測(ce)(ce)量之(zhi)前,必須調整指零(ling)(ling)表(biao),使其處于零(ling)(ling)位(wei)。經過噪聲濾(lv)波(bo)和波(bo)度(du)濾(lv)波(bo)以后,剩下來的(de)(de)就是與(yu)被測(ce)(ce)表(biao)面粗糙(cao)度(du)成(cheng)比例的(de)(de)信號,再經平均(jun)表(biao)放大器(qi)后,所輸(shu)出(chu)的(de)(de)電(dian)...
  •  時代硬度計的試驗步驟 時(shi)代硬度(du)計是(shi)(shi)一(yi)個品(pin)牌,時(shi)代源自(zi)北(bei)京時(shi)代光南檢測(ce)(ce)公司。北(bei)京時(shi)代光南檢測(ce)(ce)技術(shu)有限公司是(shi)(shi)專門的(de)力學(xue)性能及(ji)無損(sun)檢測(ce)(ce)儀(yi)器生產廠家,權威度(du)高,時(shi)代的(de)產品(pin)在(zai)國內各地都豐富(fu)著檢測(ce)(ce)領域。 適用材料:鋼和鑄鋼、合(he)金工(gong)具鋼、不銹鋼、灰鑄鐵、球墨鑄鐵、鑄鋁合(he)金、銅(tong)鋅合(he)金...
  •  時代測厚儀使用注意事項 時(shi)代測厚儀使用注(zhu)意事項(xiang)(xiang)時(shi)代測厚儀的(de)測試(shi)方法(fa)主要(yao)有:磁性測厚法(fa),放射測厚法(fa),電解測厚法(fa),渦(wo)流測厚法(fa),超聲波測厚法(fa)。測量(liang)注(zhu)意事項(xiang)(xiang):⒈在(zai)進行測試(shi)的(de)時(shi)候(hou)要(yao)注(zhu)意標準片集體的(de)金屬磁性和(he)表(biao)面(mian)粗糙度應當與試(shi)件相似。⒉測量(liang)時(shi)側頭與試(shi)樣表(biao)面(mian)保持垂直。⒊時(shi)代測厚儀測量(liang)時(shi)要(yao)注(zhu)意基體金...
  •  維氏硬度計的壓痕對角線測量  維氏法(fa)中壓(ya)痕(hen)(hen)對角線增長與其壓(ya)痕(hen)(hen)面積增加成(cheng)正(zheng)比,而布(bu)氏硬度(du)壓(ya)痕(hen)(hen)(d)增加到一定程度(du)后,d值變(bian)化(hua)小(xiao)面積變(bian)大(da),這時測量(liang)誤差對測量(liang)結果影響較(jiao)(jiao)大(da)。因此,采用(yong)對角線長度(du)計(ji)量(liang)的(de)維氏法(fa)較(jiao)(jiao)布(bu)氏法(fa)要精準。與洛(luo)氏法(fa)比較(jiao)(jiao),它有一個統一的(de)標尺,可適(shi)用(yong)于較(jiao)(jiao)大(da)范圍變(bian)化(hua)的(de)硬度(du)測試,如某一種金...
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