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簡單介紹：
ATX280涂層測厚儀|漆膜測厚儀是一種實用型便攜式測量儀，能快速、無損傷、精密地進行涂、鍍層厚度的測量，既可用于實驗室，也可用于工程現場，使用不同的測頭，可滿足多種測量的需要，ATX280涂層測厚儀廣泛地應用在制造業、金屬加工、化工、商檢等領域，是材料保護專業必備的儀器。
詳情介紹：
ATX280涂層測厚儀概述
  ; ATX280涂(tu)(tu)層測(ce)厚(hou)儀(yi)(yi)|漆膜測(ce)厚(hou)儀(yi)(yi)是(shi)一種實(shi)用(yong)(yong)型(xing)便攜式測(ce)量儀(yi)(yi)，能(neng)快速(su)、無(wu)損傷、精密地進行涂(tu)(tu)、鍍(du)層厚(hou)度(du)的(de)測(ce)量，既可用(yong)(yong)于(yu)(yu)實(shi)驗室，也可用(yong)(yong)于(yu)(yu)工程現場，使用(yong)(yong)不同的(de)測(ce)頭，可滿足多(duo)種測(ce)量的(de)需要，廣泛地應(ying)用(yong)(yong)在制造業、金屬(shu)加工、化工、商(shang)檢等領(ling)域(yu)，是(shi)材料保護專業必備的(de)儀(yi)(yi)器。
ATX280涂層測厚儀符合以下標準：
  • GB/T4956-1985 磁性方法
  • GB/T4957-1985 渦流方法
  • JB/T8393-1996 磁性和渦流覆層測厚儀
  • JJG889-95 《磁阻(zu)法測厚儀》
  • JJG818-93 《電渦流式測厚儀》 
ATX280涂層測厚儀功能特點
  • 采(cai)用了(le)磁性和渦流兩種測厚方(fang)法，可無損地測量：
   1、磁性金(jin)屬基體(ti)(如鋼(gang)、鐵、合金(jin)等)上非磁性覆層(ceng)厚度(如鋅(xin)、鋁、鉻、銅(tong)、橡膠、油漆等)
   2、非磁性金屬(shu)基體(如銅(tong)、鋁、鋅、錫等(deng))上非導電覆(fu)層(ceng)厚度(du)(如:橡(xiang)膠、油漆、陽極氧(yang)化膜等(deng))
  • 可使(shi)用7種測頭（F400、F1、F1/90°、F10、CN02、N1）
  • 菜單顯示
  • 具有兩種測量方式(shi)：連續測量方式(shi)（CONTINUE）和單次測量方式(shi)（SINGLE）
  • 具有(you)兩種工作方(fang)式：直接方(fang)式（DIRECT）和成組方(fang)式（A-B）
  • 設有五個統(tong)計(ji)量：平(ping)均值、最(zui)大值（MAX）、最(zui)小值（MIN）、測(ce)試(shi)次(ci)數（NO．）、標準偏差
  • 可(ke)采用(yong)單點(dian)校(xiao)準(zhun)和兩點(dian)校(xiao)準(zhun)兩種方法對(dui)儀器進行校(xiao)準(zhun)，并(bing)可(ke)用(yong)基本校(xiao)準(zhun)法對(dui)測頭(tou)的(de)系統誤差進行修正(zheng)
  • 具有存(cun)貯(zhu)功能：可(ke)存(cun)貯(zhu)495個測量值(zhi)
  • 具有刪(shan)(shan)除功能：對測量(liang)中出現的單(dan)個(ge)可疑數(shu)(shu)據進行(xing)刪(shan)(shan)除，也可刪(shan)(shan)除存貯區內的所有數(shu)(shu)據
  • 可設(she)置限(xian)界：對限(xian)界外的測量值(zhi)能(neng)自動報警
  • 具(ju)有電(dian)源欠(qian)壓指示功(gong)能
  • 操作過(guo)程有(you)蜂(feng)鳴(ming)聲提示
  • 具有錯誤提(ti)示功能，通過屏顯或蜂鳴聲進行(xing)錯誤提(ti)示
  • 設有兩種關機(ji)方(fang)(fang)式(shi)：手動(dong)關機(ji)方(fang)(fang)式(shi)和自動(dong)關機(ji)方(fang)(fang)式(shi)
ATX280涂層測厚儀技術參數
  • 測頭類型：可選，見涂層測厚儀探頭參數表
  • 測量(liang)原理：磁感應和(he)電(dian)渦流
  • 測量范圍：0-1250um（F1) | 0-1250um(N1） 0-40um(銅上鍍(du)鉻)
  • 低(di)限分辨力(li)：0.1um
  • 探頭(tou)連接方式：分(fen)體
  • 示值誤差：F | N
   1.一(yi)點校準(um)：±[2%H+1]
   2.兩點校準(um)：±[（1%~2%）H+1]
  • 測量條件：F | N
   1.最小曲率半徑(mm)：凸1.5 | 凹9
   2.基體最(zui)小面(mian)積的直徑(mm)：ф7
   3.最(zui)小(xiao)臨界厚度(mm)：0.5
   4.最(zui)小曲率半徑(mm)：凸(tu)3 | 凹10
   5.基體最小面積的直徑(mm)：ф5
   6.最小(xiao)臨(lin)界厚度(mm)：0.3
  • 溫濕度：0~40℃ | 20%RH～90%RH
  • 統計功(gong)能：平均值(zhi)、最(zui)大(da)值(zhi)（MAX）、最(zui)小值(zhi)（MIN）、測(ce)試次數（NO．）、標準偏差
  • 工作(zuo)方式(shi)(shi)：直接(jie)方式(shi)(shi)(DIRECT)和成組(zu)方式(shi)(shi)(Appl)
  • 測量方(fang)式：連(lian)續(xu)測量方(fang)式（CONTINUE）和單(dan)次測量方(fang)式（SINGLE）
  • 上下限設(she)置：有
  • 存儲(chu)能力：500個(ge)測量值
  • 關機方式：手(shou)動和自動
  • 電  源：兩節1.5v電池
  • 外形(xing)尺寸：50×120×25mm
  • 重(zhong)   量：350g
ATX280涂層測厚儀基本配置
  • ATX280涂鍍(du)層(ceng)測(ce)厚儀主機
  • F測頭或N測頭
  • 標準片一套
  • 鐵基體或鋁(lv)基體
  • 電池(chi)
  • 使用說(shuo)明書

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