JMHRS-150/45精密雙洛氏硬度計概述

  JMHRS-150/45精密(mi)雙洛氏硬度(du)計 （機頭移(yi)動式(shi)）采(cai)用先進的閉環(huan)式(shi)傳(chuan)(chuan)感(gan)器控(kong)制(zhi)(zhi)技術(shu)實現自動控(kong)制(zhi)(zhi)和(he)硬度(du)測試過(guo)程(cheng)(cheng)。加(jia)載系(xi)統采(cai)用高精度(du)力(li)值(zhi)傳(chuan)(chuan)感(gan)器與中央控(kong)制(zhi)(zhi)器構(gou)成閉環(huan)回路實現全(quan)程(cheng)(cheng)連續跟蹤和(he)控(kong)制(zhi)(zhi)加(jia)力(li)過(guo)程(cheng)(cheng)。測深系(xi)統采(cai)用高精度(du)位(wei)移(yi)傳(chuan)(chuan)感(gan)器，由此可獲(huo)得最小硬度(du)值(zhi)分辨(bian)率(lv)為0.1HR。
 JMHRS-150/45“奧龍芯”精密雙洛氏(shi)硬度(du)計載物(wu)臺(tai)固定，由壓頭上下運動進(jin)行硬度(du)測(ce)試。固定試臺(tai)可消除傳統絲杠上下旋轉而(er)產生(sheng)的同軸(zhou)度(du)誤(wu)差(cha)，大大提高了(le)測(ce)試的精度(du)和重復性(xing)，也增加了(le)機器工作的穩定性(xing)和效率。

JMHRS-150/45精密雙洛氏硬度計功能特點

• 自動閉環(huan)傳(chuan)感器(qi)加載系統，試臺固定，實現(xian)高(gao)精度快速(su)測試;
• 可實(shi)現遠程(cheng)控制；
• 測試(shi)15種洛(luo)氏(shi)和(he)15種表面(mian)洛(luo)氏(shi)硬(ying)度(du)標尺；
• 位(wei)移(yi)傳感器分辨率0.1HR；
• 確定重復性精(jing)度(du)0.5HR；
• 高速(su)步控，測試(shi)速(su)度快（1.75s)；
• 符合標準ASTM E18,ASTM E384, ISO6508 GB/T230;
• 機(ji)頭(tou)移(yi)動式(shi)設計，機(ji)架結構堅(jian)固,剛性好(hao)；
• 高(gao)精度加載(zai)系統，有效避免了(le)測力超負載(zai)；
• 高精(jing)度直(zhi)線導軌控制機頭精(jing)準(zhun)移(yi)動(dong)；
• 可通過壓(ya)頭自(zi)動退(tui)離功能(neng)在固(gu)定工作臺進出持續(xu)測量；
• 自(zi)(zi)動提升機頭和(he)自(zi)(zi)動負載初始試驗力，能夠(gou)確保測力穩定生成(cheng)；
• 高清晰LCD觸摸屏操作，菜單式操作界面；
• 背光(guang)LCD顯示(shi)，自動(dong)數據統計(ji)和(he)存(cun)儲， RS-232數據輸出接口(kou)；
• 自動加卸載，保荷時間可(ke)調；
• GO/NG公差判斷；
• 圓柱體(ti)(ti)、球(qiu)體(ti)(ti)試驗值的(de)修(xiu)正；
• 測力選(xuan)擇(ze)與(yu)硬度(du)標尺選(xuan)擇(ze)連動；
• 可選擇的操作(zuo)語(yu)言(yan)包括英(ying)語(yu)、中文,方便用(yong)戶操作(zuo)；
• 標尺轉換HR、HB、HV；
• 內置打印機(ji)；
• 標(biao)準配置齊(qi)全(quan)，可滿足所有標(biao)尺的測試要(yao)求(qiu)；

• 自動(dong)高(gao)速響應閉環傳感器(qi)加載(zai)系(xi)統，機頭自動(dong)移動(dong)，實現高(gao)精(jing)(jing)度快速測(ce)試提升執行(xing)機構(gou)控制(zhi)精(jing)(jing)度；
• 原系統(tong)屬于毫(hao)秒控制系統(tong)，無(wu)法實(shi)現步控，“奧(ao)龍(long)芯”系統(tong)屬于微秒控制系統(tong)，可實(shi)現高(gao)速(su)步控；
• 對位移傳感器(qi)設置(zhi)(zhi)專用的管理(li)裝置(zhi)(zhi)QEI，原(yuan)主板(ban)無專用管理(li)裝置(zhi)(zhi)，CPU必須在整個加載(zai)過程(cheng)中(zhong)不(bu)斷親(qin)自處理(li)位移傳感器(qi)信號；設置(zhi)(zhi)專用管理(li)裝置(zhi)(zhi)后，CPU只需在開始(shi)和結束兩個時間點上讀取數(shu)據即可，加載(zai)過程(cheng)CPU可集中(zhong)資源(yuan)管理(li)力傳感器(qi)和加載(zai)電機，使得控制(zhi)快速，精度高。
• 導入日本高(gao)精度(du)磁(ci)柵位(wei)移(yi)傳(chuan)感器(qi)：原(yuan)位(wei)移(yi)傳(chuan)感器(qi)為(wei)國產光(guang)柵位(wei)移(yi)傳(chuan)感器(qi)。存(cun)在一(yi)致(zhi)性差，需要(yao)與設備進行配套(tao)選別的問題。 日本高(gao)精度(du)位(wei)移(yi)傳(chuan)感器(qi)一(yi)致(zhi)性高(gao)，受(shou)環境(jing)影(ying)響更小、壽命長(chang)。
• 傳統電加(jia)荷洛氏硬度(du)計力(li)(li)值加(jia)載過程慢，如果(guo)加(jia)載速度(du)要控制在國標GBT230/T-91要求的8秒內，則會(hui)出現如圖中紅色曲(qu)線在試(shi)驗力(li)(li)F總(zong)時(shi)不斷的過沖和卸(xie)除來接近F總(zong)的現象(xiang)。其導致的結果(guo)，一是硬度(du)計必須放慢試(shi)驗的速度(du)，造成(cheng)檢測時(shi)間過長；二是過沖現象(xiang)一定(ding)程度(du)上影響(xiang)了試(shi)驗精(jing)度(du)。
• 本設備采用先(xian)進適用的(de)(de)中(zhong)央(yang)處(chu)理(li)(li)芯片，高速響(xiang)應整(zheng)個硬(ying)度試(shi)(shi)驗(yan)的(de)(de)過程(cheng)(cheng)，每一(yi)次硬(ying)度試(shi)(shi)驗(yan)的(de)(de)啟動到(dao)結束，中(zhong)央(yang)處(chu)理(li)(li)芯片會高速的(de)(de)處(chu)理(li)(li)1.8萬(wan)—3萬(wan)組數據(ju)。將傳統電加(jia)荷(he)硬(ying)度計需要(yao)8秒(miao)(miao)才可以做到(dao)的(de)(de)加(jia)載(zai)(zai)動作，縮短到(dao)1.75秒(miao)(miao)(ISO6508-1:99統一(yi)了(le)(le)試(shi)(shi)驗(yan)力(li)施加(jia)時間為1~8s之內)。如(ru)圖(tu)中(zhong)藍色(se)曲線所示，實現(xian)加(jia)載(zai)(zai)過程(cheng)(cheng)的(de)(de)速度的(de)(de)要(yao)求(qiu)，加(jia)載(zai)(zai)到(dao)總試(shi)(shi)驗(yan)力(li)的(de)(de)過程(cheng)(cheng)中(zhong)力(li)值(zhi)平滑(hua)無過沖(chong)， 提高了(le)(le)電加(jia)荷(he)硬(ying)度計的(de)(de)加(jia)載(zai)(zai)速度和精度。