全自動凸鼻子全洛氏硬度計概述

• 高精度加載系統(tong)，有效(xiao)避免了(le)測力(li)超負載，同時提高了(le)加載速度
• 測(ce)試精度高，測(ce)量范圍寬；
• 可實現(xian)遠程控制；
• 上下限設置(zhi)，超差報警；
• 曲面(mian)修正，對柱面(mian)、球面(mian)測量結果自動修正；
• 特殊設計的壓頭水平(ping)方向伸出(chu)，可以測(ce)量環(huan)狀、管狀等普通硬(ying)度(du)計無法測(ce)量的零件，最小測(ce)試(shi)內徑40mm；
• 位移傳感器分(fen)辨率0.1HR;
• 硬度(du)重(zhong)復性精度(du)0.5HR;
• 高速(su)(su)步控，測試速(su)(su)度快（1.75s）；
• 操作(zuo)方便，中英文(wen)界面可切換(huan)（可定制(zhi)其他語言版(ban)本）
• 開機即(ji)用(yong)，無需安裝(zhuang)(zhuang)砝碼，安裝(zhuang)(zhuang)調試方便；
• 電動加載(zai)，閉(bi)環控制；
• 試(shi)驗(yan)力自動修正，力值(zhi)精(jing)度高
• 所有洛氏標尺，高、中(zhong)、低(di)三段硬度值自(zi)動修正
• 設(she)置密碼保護(hu)設(she)置參數；保持更多的樣品(pin)和試(shi)驗信息
• 采用模塊式設計，維修方便

奧(ao)龍芯控制系統的技術優勢

• 自(zi)動(dong)高(gao)速(su)響應閉(bi)環傳感(gan)器加載系統，機(ji)(ji)頭自(zi)動(dong)移動(dong)，實(shi)現高(gao)精度(du)快速(su)測試提升執行機(ji)(ji)構(gou)控(kong)制精度(du)；
• 原系(xi)統(tong)屬于毫秒控(kong)制(zhi)系(xi)統(tong)，無(wu)法實現步(bu)控(kong)，“奧龍芯”系(xi)統(tong)屬于微秒控(kong)制(zhi)系(xi)統(tong)，可實現高速(su)步(bu)控(kong)；
• 對位移傳感(gan)器(qi)設置專用(yong)(yong)的管理(li)(li)(li)裝置QEI，原主板無專用(yong)(yong)管理(li)(li)(li)裝置，CPU必須(xu)在(zai)整個加載過程(cheng)中不(bu)斷親自(zi)處理(li)(li)(li)位移傳感(gan)器(qi)信號；設置專用(yong)(yong)管理(li)(li)(li)裝置后，CPU只需在(zai)開始和結束(shu)兩個時間(jian)點(dian)上讀(du)取數據即可(ke)，加載過程(cheng)CPU可(ke)集中資源(yuan)管理(li)(li)(li)力傳感(gan)器(qi)和加載電(dian)機，使得控(kong)制快速，精度(du)高。
• 導入日(ri)本高(gao)(gao)精度磁(ci)柵位移(yi)傳感器：原位移(yi)傳感器為(wei)國(guo)產光柵位移(yi)傳感器。存在(zai)一(yi)致性差(cha)，需要(yao)與設備(bei)進行配(pei)套選別(bie)的問(wen)題。 日(ri)本高(gao)(gao)精度位移(yi)傳感器一(yi)致性高(gao)(gao)，受環境影響更小、壽命長。
• 傳(chuan)統(tong)電(dian)加荷洛氏硬度(du)(du)(du)計(ji)力值(zhi)加載(zai)過(guo)程(cheng)慢(man)，如果加載(zai)速度(du)(du)(du)要控制在(zai)國(guo)標GBT230/T-91要求的(de)(de)8秒(miao)內(nei)，則(ze)會出(chu)現如圖(tu)中紅色曲線在(zai)試驗(yan)(yan)力F總(zong)時不斷(duan)的(de)(de)過(guo)沖和(he)卸除來接(jie)近F總(zong)的(de)(de)現象。其導致的(de)(de)結(jie)果，一是(shi)硬度(du)(du)(du)計(ji)必須放慢(man)試驗(yan)(yan)的(de)(de)速度(du)(du)(du)，造成檢測(ce)時間過(guo)長；二是(shi)過(guo)沖現象一定程(cheng)度(du)(du)(du)上影響了試驗(yan)(yan)精度(du)(du)(du)。
• 本(ben)設備采用先(xian)進適用的(de)中央處(chu)理(li)(li)芯片，高速(su)響應整個硬(ying)(ying)度(du)試(shi)(shi)驗的(de)過(guo)程，每一(yi)(yi)次硬(ying)(ying)度(du)試(shi)(shi)驗的(de)啟動到(dao)結束，中央處(chu)理(li)(li)芯片會高速(su)的(de)處(chu)理(li)(li)1.8萬—3萬組數據(ju)。將傳統電(dian)(dian)加(jia)(jia)荷硬(ying)(ying)度(du)計(ji)(ji)需(xu)要8秒(miao)才(cai)可以做到(dao)的(de)加(jia)(jia)載(zai)動作，縮短(duan)到(dao)1.75秒(miao)(ISO6508-1:99統一(yi)(yi)了試(shi)(shi)驗力施加(jia)(jia)時間為1~8s之(zhi)內)。如圖中藍色曲(qu)線所示(shi)，實現加(jia)(jia)載(zai)過(guo)程的(de)速(su)度(du)的(de)要求，加(jia)(jia)載(zai)到(dao)總試(shi)(shi)驗力的(de)過(guo)程中力值平滑無過(guo)沖(chong)， 提高了電(dian)(dian)加(jia)(jia)荷硬(ying)(ying)度(du)計(ji)(ji)的(de)加(jia)(jia)載(zai)速(su)度(du)和精度(du)。