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產品詳情
  • 產品名稱:ATX211涂層測厚儀

  • 產品型號:
  • 產品廠商:北京時代光南檢測技術有限公司
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簡單介紹:
ATX211涂層測厚儀配置嵌入式傳感器,采用磁阻法和渦流法,可測量磁性基體上非磁性涂鍍層厚度以及非磁性基體上非導電涂鍍層厚度,本儀器具有高精度、性能穩定,操作簡單、可用于現場應用等特點
詳情介紹:

ATX211涂(tu)層測厚儀概述

ATX211涂(tu)(tu)層(ceng)(ceng)測(ce)厚儀(yi)(yi)配置(zhi)嵌入式(shi)傳(chuan)感器,采(cai)用(yong)(yong)(yong)磁(ci)阻法和渦流(liu)法,可(ke)測(ce)量(liang)磁(ci)性基體上非(fei)(fei)磁(ci)性涂(tu)(tu)鍍層(ceng)(ceng)厚度(du)(du)以及非(fei)(fei)磁(ci)性基體上非(fei)(fei)導(dao)電涂(tu)(tu)鍍層(ceng)(ceng)厚度(du)(du),本(ben)儀(yi)(yi)器具有高精度(du)(du)、性能穩(wen)定,操作簡(jian)單(dan)、可(ke)用(yong)(yong)(yong)于現場應(ying)(ying)用(yong)(yong)(yong)等特點,配置(zhi)集成式(shi)測(ce)量(liang)探頭(tou),應(ying)(ying)用(yong)(yong)(yong)磁(ci)阻法或電渦流(liu)測(ce)量(liang)原理可(ke)快速而無損地(di)測(ce)量(liang)涂(tu)(tu)鍍層(ceng)(ceng)厚度(du)(du)。廣(guang)泛應(ying)(ying)用(yong)(yong)(yong)于表面涂(tu)(tu)鍍業、船舶制(zhi)造(zao)(zao)、汽車制(zhi)造(zao)(zao)、橋梁工(gong)程、航空制(zhi)造(zao)(zao)、化工(gong)等領(ling)域。

符合以下工業規范和標準(zhun):

  • GB/T 4956-2003 磁性基體上非磁性覆蓋層 覆蓋層厚度測量 磁阻法
  • GB/T 4957-2003 非磁(ci)性基體金屬上非導電覆蓋層 覆蓋層厚度測(ce)量渦流法
  • JB/T 8393-1996 磁性和渦流式覆(fu)層厚度測量(liang)儀
  • JJG 818-2018磁性、電渦流式覆層(ceng)厚度測量儀


ATX211涂層(ceng)測厚儀原理

本儀器采(cai)用磁性法和(he)渦流(liu)法兩種測量(liang)原(yuan)理,工作原(yuan)理如下:

1)磁性(xing)法(F型(xing)測(ce)(ce)頭):可測(ce)(ce)量導(dao)磁(ci)性(xing)金屬基體(ti)(如鋼(gang)、鐵(tie)合金鋼(gang)、硬磁(ci)性(xing)鋼(gang)等(deng),但(dan)不包括奧氏體(ti)鋼(gang)和軟(ruan)磁(ci)性(xing)鋼(gang)等(deng))上(shang)非磁(ci)性(xing)涂鍍層(ceng)(如油漆、陶(tao)瓷、橡膠、鋁、鉻、銅、錫等(deng))的厚度(du)。

當測頭接觸鐵磁基(ji)體(或其他磁性金屬)時形(xing)成(cheng)一閉合磁路,由于涂鍍層的(de)(de)存在,穿過(guo)線圈的(de)(de)磁通(tong)量(liang)與涂鍍層厚(hou)度的(de)(de)變(bian)(bian)化會導(dao)致磁路磁阻發(fa)生(sheng)變(bian)(bian)化,通(tong)過(guo)測量(liang)其變(bian)(bian)化便可計(ji)算(suan)和推導(dao)出涂鍍層的(de)(de)厚(hou)度。


2)渦流(liu)法(N型(xing)測(ce)(ce)(ce)頭):可測(ce)(ce)(ce)量(liang)測(ce)(ce)(ce)量(liang)非磁性金屬基(ji)體(如銅(tong)、鋁、鋅、錫(xi)等)上非導電覆蓋層(ceng)的厚度(如:橡膠、油漆(qi)、塑料、陽極(ji)氧化膜等)。當測(ce)(ce)(ce)頭靠(kao)近(jin)金屬基(ji)體時,由于(yu)高頻交變電流在線圈(quan)中產生了電磁場,金屬基(ji)體會形(xing)成(cheng)電渦流并對(dui)線圈(quan)產生反(fan)饋,隨后通過(guo)測(ce)(ce)(ce)量(liang)反(fan)饋量(liang)的大小可推導出(chu)相對(dui)應的厚度值。

ATX211涂層(ceng)測厚儀(yi)技術參數


  • 測(ce)量方法(fa):磁阻(zu)法(fa)及(ji)渦流法(fa)
  • 測(ce)量范圍:0~1500μm(0~60mil)
  • 分辨(bian)率:0~999μm:0.1μm, ;          ≥1000μm:1μm
  • **度:低(di)于100μm:±1.5 μm;     100~1500 μm:≤1.5%
  • 數據存儲(chu)量(liang):1500
  • 顯 示:LCD背光(guang)圖像(xiang)顯(xian)示
  • 電(dian) 源:1.5VX3(AAA-型電(dian)池(chi))
  • 使用溫度:0~50℃
  • 規(gui) 格:88x67x30mm
  • 重 量:120g



ATX211涂層測(ce)厚儀標準配置


  • 涂層測(ce)厚儀        1臺(tai)
  • 標準厚度(du)片(pian)        6片(pian)
  • 校準基體          2
  • AAA1.5V 堿性電池  3節(jie)
  • USB 數據線        1
  • 隨機文件          1套(tao)


ATX211涂層測(ce)厚儀(yi)可選件


  • 微型打印機1
  • 充電器1


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