- 里(li)氏(shi)硬度(du)計
- 洛氏硬度(du)計
- 布氏(shi)硬度計
- 顯微(wei)硬度計
- 維氏(shi)硬度計
- 超(chao)聲(sheng)波硬度(du)計
- 邵氏硬(ying)度計
- 韋氏硬(ying)度計
- 巴氏硬(ying)度計
- 粗糙度(du)儀
- 拋丸/噴砂粗糙度儀
- 金相檢測設備
- 超聲波測厚儀
- 涂(tu)層測厚(hou)儀
- 超聲(sheng)波探傷儀
- 磁粉(fen)探(tan)傷儀
- 電(dian)火花檢(jian)漏儀
- 測振儀(yi)
- 紅(hong)外測溫儀
- 轉速表(biao)
- 頻閃儀
- 裂紋測深儀(yi)
- 色差(cha)儀
- 標準光(guang)源對色燈箱
- 表面(mian)光學檢(jian)測儀器
- 現(xian)場金屬顯微鏡
- 拉壓力(li)測試儀(yi)
- 工(gong)業內窺(kui)鏡
- 影像測量儀
- 氣體檢測儀(yi)
- 環(huan)保分析儀器
- 時代激(ji)光測(ce)徑儀
- 晶間腐蝕儀(yi)
儀器銷售部
電 話:010-62969867
傳 真:010-82782201
手 機:15510478722
服務專線:400 6601118
Email:shidaijiance@163.com
網址:www.beijingshidai.com.cn
多功能高(gao)精度超聲波測厚儀概述(shu)
ATMX3600多功能高精度超(chao)聲波測厚儀,采用(yong)脈沖反射超(chao)聲(sheng)波(bo)測(ce)量(liang)(liang)原理,適用(yong)于超(chao)聲(sheng)波(bo)能(neng)以一恒定速度在(zai)其(qi)內部傳播,并能(neng)從(cong)其(qi)背面得到反射的各(ge)種材料(liao)厚度的測(ce)量(liang)(liang),測(ce)量(liang)(liang)分辨率(lv)高達0.001mm。此儀(yi)器可對各(ge)種板材和各(ge)種加(jia)工零件作**測(ce)量(liang)(liang),適合(he)測(ce)量(liang)(liang)金屬(如(ru)鋼、鑄鐵、鋁、銅等(deng))、塑料(liao)、陶瓷(ci)、玻(bo)璃、玻(bo)璃纖維及其(qi)他任何超(chao)聲(sheng)波(bo)的良導體的厚度,可被(bei)廣泛應用(yong)于石油、化工、冶金、造(zao)船、航(hang)空(kong)、航(hang)天等(deng)各(ge)個領域(yu)。
本產(chan)品符合以下(xia)標準:
《超聲波測厚儀(yi)校準規范》 JJF 1126-2004
ATMX3600多(duo)功能高(gao)精度超聲波測厚(hou)儀功能特點
- 采用高精度(du)計時(shi)芯片和V-PATH校準模型,實(shi)現精準測量(liang),顯示分辨率高達0.001mm
- 同時支持(chi)單晶(jing)(jing)探頭和雙晶(jing)(jing)探頭,既可對超薄(bo)工件進行(xing)精準測量,又能兼(jian)顧常規(gui)大量程(cheng)測量
- 支持(chi)實時溫度(du)補償,消除探頭溫度(du)變化引起的測量(liang)誤差(cha),探頭插入儀器(qi)后只(zhi)需(xu)校準一(yi)次即(ji)可長期使用(yong),無需(xu)頻繁校準
- 可進行穿越涂層測(ce)(ce)量(基本(ben)款),并同時測(ce)(ce)量涂層和基材厚(hou)度(高度款)
- 內置藍牙模(mo)塊,可(ke)與PC機或(huo)智能(neng)終(zhong)端設(she)備進(jin)行有線、無(wu)線數據傳輸,并可(ke)進(jin)行無(wu)線打印
- 支(zhi)持測(ce)量下限功能,可(ke)用于測(ce)量內部缺陷較多(duo)的(de)工(gong)(gong)件(jian)(jian)(鑄件(jian)(jian)、玻璃纖維等(deng))或多(duo)層工(gong)(gong)件(jian)(jian)。(可(ke)以定(ding)(ding)制定(ding)(ding)制)
- 可對已知厚度試(shi)件直接(jie)進(jin)行聲(sheng)速測量,并支持球(qiu)化等級分級顯(xian)示,可用(yong)于輔助判斷球(qiu)墨鑄(zhu)鐵(tie)球(qiu)化率及球(qiu)化等級(可以定制)
- 支持(chi)實時在(zai)線測量、上位機指令控制(可以定(ding)制)
ATMX3600多功能高(gao)精度超聲(sheng)波測厚儀主(zhu)要功能
- 具有(you)脈沖(chong)回(hui)波(P-E)、界面回(hui)波(I-E)和回(hui)波回(hui)波(E-E)多(duo)種測(ce)量方式,可進行常規(gui)測(ce)量和穿越涂層測(ce)量
- 支持(chi)多種專用探頭,16檔增(zeng)益等(deng)級可調,7檔發射等(deng)級可調,可根據實際測量工件(jian)進行設置,在不同(tong)場景下達到最佳測量效果
- 具有上下限(xian)掃描(miao)、差值測量、超限(xian)報警(jing)等多種測量模(mo)式
- 已知厚度(du)可(ke)以反測聲速(su),以提高測量精度(du)
- 顯(xian)示(shi)信息豐富,包括厚度值、聲(sheng)速(su)、耦合狀(zhuang)態(tai)、回波數、電量狀(zhuang)態(tai)、時(shi)間等(deng)
- 完(wan)整(zheng)保存測量(liang)信息(xi),包(bao)括測量(liang)厚度、測量(liang)聲速、測量(liang)時間等
- 支持鍵(jian)盤(pan)鎖(suo)功能,避免測量過程(cheng)中,誤觸導致參數設置變化
- 內(nei)置(zhi)藍(lan)牙模塊及Mini-USB接口,可(ke)連接便攜式熱敏打印機,并可(ke)與PC機(ji)或智能(neng)手機(ji)進行有線、無線數據傳輸
- 可進行軟硬件定制(zhi),包括電(dian)源改(gai)裝、通訊(xun)接口改(gai)裝、通訊(xun)協議定制(zhi)等
ATMX3600多功能高精度超聲波測(ce)厚儀技術參數
- 測量范圍:0.15~2000 mm (45# 鋼(gang)) (具體有配置探頭決定)
- 可(ke)配(pei)探頭規格(ge)如下(xia):
- 1、0.15~28mm(超薄探頭)
- 2、0.8~50mm(小(xiao)管(guan)徑(jing)探頭)
- 3、0.8~300mm(標(biao)配探頭,可穿越(yue)涂層測量(liang))
- 4、3~700mm(大量程探頭)
- 5、2~200mm (高溫探頭、-10~310°C)
- 6、30~2000mm(超(chao)大量程探頭)
- 聲(sheng)速范(fan)圍:1 ~ 19999 m/s
- 顯示精度:0.001mm
- 測量誤差(cha):0.03mm 或 0.3%*H
- 測量周(zhou)期:2 ~ 4次/秒
- 工作頻率:2 ~15MHz
- 測(ce)量模(mo)式:P-E、I-E、E-E、AUTO、E-C、C-E
- 校準(zhun)功(gong)能;探(tan)頭(tou)校準(zhun)、兩點(dian)校準(zhun)
- 校準試塊(kuai):4.000mm(鋼)
- 反測(ce)聲速:支持,可對已知厚(hou)度物體反測(ce)聲速
- 增益調節:16檔增益等級可調、7檔發射等級可調
- 測量模式:單點測量,掃描測量,界限掃描,差值測量,超限報警(jing)
- 數據存儲(chu):1000組測(ce)(ce)量(liang)(liang)結(jie)果,包括(kuo)厚度測(ce)(ce)量(liang)(liang)值、測(ce)(ce)量(liang)(liang)聲速、測(ce)(ce)量(liang)(liang)時間等相關信息
- 屏幕(mu)顯示(shi):中英文菜(cai)單可切換,FSTN LCD顯示(shi),帶冷光源照明背光
- 顯示(shi)內容:厚(hou)度、聲(sheng)速、耦合(he)狀態(tai)、有效回波數、電量狀態(tai)、時間等
- 數(shu)據通(tong)訊(xun):藍牙 / Mini-USB接口,虛擬串口通(tong)訊(xun),可與PC機(ji)或(huo)智能(neng)終端(duan)設(she)備(bei)進(jin)行數(shu)據傳(chuan)輸(shu)
- 數(shu)據打印(yin):可選配便攜式藍牙(ya)熱(re)敏打印(yin)機
- 工作電(dian)(dian)源:內(nei)置3.7V可充(chong)電(dian)(dian)鋰(li)離子電(dian)(dian)池(充(chong)電(dian)(dian)時(shi)間約3~4小時(shi))
- 自動(dong)關(guan)機:待機超時(可設置)自動(dong)關(guan)機,欠壓(低(di)于3.4V)自動(dong)關(guan)機
- 使用溫度:-10 ~ 50 °C
- 存放溫度(du):-30 ~ 60 °C
- 外形尺寸(cun):157mm*78mm*37mm
- 主機(ji)重量:約260g
- 機殼材質(zhi):ABS+PC合金
- 儀器箱材質:高抗沖擊ABS(IK08),防水防塵(IP67)
探(tan)頭技術指標:
探頭規格 |
S15-P06 |
S2M-P14 |
G5M-P10 (標準配置) |
G7M-P06 |
G2M-P12 |
H3M-P12 |
|
探頭類(lei)型 |
單晶 |
單晶 |
雙晶 |
雙晶(jing) |
雙晶 |
雙晶 |
|
測量范(fan)圍 |
0.15~28 mm |
30~2000 mm |
0.8~300 mm |
0.8~50 mm |
3.0~700 mm |
2.0~200 mm |
|
測(ce)量誤差(cha) |
H<10 |
0.01mm |
- |
0.03mm |
0.03mm |
0.05mm |
0.05mm |
H≥10 |
0.3%H |
0.5%H |
0.3%H |
0.3%H |
0.5%H |
0.5%H |
|
探頭外徑 |
8mm |
19mm |
13mm |
9mm |
17mm |
15mm |
|
測(ce)量(liang)頻率 |
15MHz |
2MHz |
5MHz |
7.5MHz |
2MHz |
3MHz |
|
接(jie)觸溫度 |
-10~60°C |
-10~310°C |
-10~60°C |
-10~60°C |
-10~60°C |
-10~310°C |
|
適用范圍 |
高精度測量(liang)(liang)或測量(liang)(liang)超(chao)薄工件(jian) |
無延遲(chi)塊(kuai),測(ce)量(liang)超厚工件 |
測量常規工件 |
微(wei)徑探頭,測量曲面(mian)及小工件 |
粗(cu)晶(jing)探頭,測量鑄件(jian)及較(jiao)厚(hou)工件(jian) |
高(gao)溫(wen)探頭,測量(liang)高(gao)溫(wen)工件 |
多功能高(gao)精(jing)度超聲波測(ce)厚(hou)儀基(ji)本配(pei)置(zhi)
- 超聲波測厚儀主(zhu)機 1臺
- 標配探(tan)頭 1只
- 充(chong)電器 1個
- 儀器保護套(tao)
- 耦合劑 1瓶
- 隨(sui)機文(wen)件 1套
- 器箱 1個