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影響漆膜測厚儀測量準確性的因素 影響(xiang)(xiang)漆膜(mo)測(ce)厚儀測(ce)量準(zhun)(zhun)確性(xing)(xing)(xing)的因(yin)素a） 基(ji)體金(jin)(jin)屬(shu)磁性(xing)(xing)(xing)質(zhi)磁性(xing)(xing)(xing)法(fa)測(ce)厚受(shou)基(ji)體金(jin)(jin)屬(shu)磁性(xing)(xing)(xing)變(bian)(bian)化的影響(xiang)(xiang)（在(zai)實際應(ying)用中，低碳鋼磁性(xing)(xing)(xing)的變(bian)(bian)化可以認為是輕微的），為了避免熱處(chu)理和冷(leng)加工(gong)因(yin)素的影響(xiang)(xiang)，應(ying)使用與試件基(ji)體金(jin)(jin)屬(shu)具有相同性(xing)(xing)(xing)質(zhi)的標準(zhun)(zhun)片對(dui)儀器進(jin)行(xing)校(xiao)準(zhun)(zhun)；亦可用待涂覆(fu)試件進(jin)行(xing)校(xiao)準(zhun)(zhun)。b）基(ji)體...
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時代覆層測厚儀故障代號的含意及解決方法 時代(dai)覆(fu)(fu)層(ceng)測(ce)(ce)厚儀(yi)(yi)故障代(dai)號的(de)含意及解(jie)決(jue)(jue)方法(fa)E02測(ce)(ce)頭或(huo)(huo)(huo)儀(yi)(yi)器(qi)損壞 解(jie)決(jue)(jue)辦(ban)法(fa)：修理測(ce)(ce)頭或(huo)(huo)(huo)儀(yi)(yi)器(qi)E03測(ce)(ce)頭或(huo)(huo)(huo)儀(yi)(yi)器(qi)損壞 解(jie)決(jue)(jue)辦(ban)法(fa)：修理測(ce)(ce)頭或(huo)(huo)(huo)儀(yi)(yi)器(qi)，應采用輔助E04測(ce)(ce)量值發(fa)生大的(de)波動（例如在軟(ruan)覆(fu)(fu)蓋(gai)層(ceng)上測(ce)(ce)量時）；磁場(chang)影響解(jie)決(jue)(jue)辦(ban)法(fa)：在軟(ruan)質覆(fu)(fu)蓋(gai)層(ceng)上測(ce)(ce)量時應采用輔助裝置(zhi)進行測(ce)(ce)量...
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紅外線測溫儀原理和選型 紅(hong)(hong)外(wai)線(xian)測(ce)(ce)(ce)溫儀(yi)(yi)原理和選(xuan)型了(le)解更(geng)多關于紅(hong)(hong)外(wai)及紅(hong)(hong)外(wai)測(ce)(ce)(ce)溫儀(yi)(yi)產(chan)品知(zhi)識，以便更(geng)好的了(le)解非接觸(chu)測(ce)(ce)(ce)量的原理及優勢。紅(hong)(hong)外(wai)測(ce)(ce)(ce)溫儀(yi)(yi)工作原理-紅(hong)(hong)外(wai)測(ce)(ce)(ce)溫儀(yi)(yi)由光(guang)學系(xi)統(tong)(tong)，光(guang)電(dian)探測(ce)(ce)(ce)器，信(xin)號(hao)大器及信(xin)號(hao)處理.顯示輸出(chu)等部分組(zu)成。光(guang)學系(xi)統(tong)(tong)匯聚(ju)其視場內的目(mu)標紅(hong)(hong)外(wai)輻射能(neng)量，紅(hong)(hong)外(wai)能(neng)量聚(ju)焦在光(guang)電(dian)探測(ce)(ce)(ce)器上(shang)并(bing)...
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表面粗糙度的基本知識 一、表面(mian)粗(cu)糙度的概念表面(mian)粗(cu)糙度是指加工表面(mian)具(ju)有(you)的較小(xiao)間距和微小(xiao)峰(feng)(feng)谷(gu)的不(bu)平(ping)度。其(qi)兩波峰(feng)(feng)或(huo)兩波谷(gu)之間的距離(波距)很小(xiao)(在(zai)1mm以下(xia))，它屬于微觀幾何(he)形狀誤差。
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涂層測厚儀的分類以及測量原理 涂(tu)層(ceng)(ceng)測(ce)厚(hou)儀的分類(lei)以及測(ce)量原理 對材料表(biao)面(mian)保護、裝飾形成(cheng)的覆(fu)蓋層(ceng)(ceng)，如涂(tu)層(ceng)(ceng)、鍍(du)層(ceng)(ceng)、敷層(ceng)(ceng)、貼層(ceng)(ceng)、化學生(sheng)成(cheng)膜(mo)等，在有(you)關國(guo)家和(he)國(guo)際標準(zhun)中(zhong)稱為覆(fu)層(ceng)(ceng)（coating）。 覆(fu)層(ceng)(ceng)厚(hou)度測(ce)量已成(cheng)為加(jia)工(gong)工(gong)業、表(biao)面(mian)工(gong)程質(zhi)量檢測(ce)的重要(yao)一環，是產(chan)品達到優等質(zhi)量標準(zhun)的必備手段。為使產(chan)品...
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涂層測厚儀的電渦流測量原理 高頻交流信號在測(ce)(ce)頭(tou)線圈中產生電(dian)(dian)磁場，測(ce)(ce)頭(tou)靠近導體時(shi)，就在其中形成渦流。測(ce)(ce)頭(tou)離(li)導電(dian)(dian)基體愈近，則(ze)渦流愈大(da)，反(fan)射阻(zu)抗也愈大(da)。這(zhe)個反(fan)饋作(zuo)用量表征了測(ce)(ce)頭(tou)與導電(dian)(dian)基體之(zhi)間距(ju)離(li)的大(da)小(xiao)，也就是導電(dian)(dian)基體上非導電(dian)(dian)覆(fu)層厚度的大(da)小(xiao)。由于這(zhe)類(lei)測(ce)(ce)頭(tou)專門(men)測(ce)(ce)量非鐵磁金屬(shu)基材上的覆(fu)層厚度，所...
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表面粗糙度儀工作原理 表(biao)面粗糙(cao)度儀工(gong)作原理當鐵芯處于(yu)差動電(dian)感線(xian)圈的(de)中間位(wei)置時，指(zhi)零表(biao)指(zhi)針指(zhi)示出(chu)零位(wei)，即保(bao)證處于(yu)電(dian)感變化的(de)線(xian)性范圍之內(nei)。所以，在測(ce)量之前，必須調整指(zhi)零表(biao)，使其(qi)處于(yu)零位(wei)。經過噪(zao)聲(sheng)濾波和波度濾波以后，剩下來的(de)就是與被測(ce)表(biao)面粗糙(cao)度成比例的(de)信號，再經平均表(biao)放大器后，所輸出(chu)的(de)電(dian)...
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時代硬度計的試驗步驟 時(shi)代(dai)(dai)硬度(du)計是(shi)一個品牌(pai)，時(shi)代(dai)(dai)源自北(bei)京時(shi)代(dai)(dai)光南檢(jian)測公(gong)司。北(bei)京時(shi)代(dai)(dai)光南檢(jian)測技術有限公(gong)司是(shi)專門的力學性能及無損檢(jian)測儀(yi)器生產(chan)廠(chang)家，權威度(du)高，時(shi)代(dai)(dai)的產(chan)品在國內(nei)各地都豐(feng)富(fu)著檢(jian)測領域。 適用(yong)材料(liao):鋼(gang)(gang)和(he)鑄鋼(gang)(gang)、合金工具鋼(gang)(gang)、不銹鋼(gang)(gang)、灰鑄鐵、球墨(mo)鑄鐵、鑄鋁合金、銅鋅合金...
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時代測厚儀使用注意事項 時(shi)(shi)代(dai)測(ce)(ce)(ce)厚(hou)儀使用注(zhu)(zhu)意事(shi)項時(shi)(shi)代(dai)測(ce)(ce)(ce)厚(hou)儀的測(ce)(ce)(ce)試(shi)方(fang)法(fa)主(zhu)要(yao)有：磁性測(ce)(ce)(ce)厚(hou)法(fa)，放射(she)測(ce)(ce)(ce)厚(hou)法(fa)，電解測(ce)(ce)(ce)厚(hou)法(fa)，渦流測(ce)(ce)(ce)厚(hou)法(fa)，超聲(sheng)波(bo)測(ce)(ce)(ce)厚(hou)法(fa)。測(ce)(ce)(ce)量(liang)注(zhu)(zhu)意事(shi)項：⒈在(zai)進行測(ce)(ce)(ce)試(shi)的時(shi)(shi)候要(yao)注(zhu)(zhu)意標準片(pian)集體(ti)的金(jin)屬磁性和表面(mian)粗糙(cao)度應當(dang)與(yu)試(shi)件相似(si)。⒉測(ce)(ce)(ce)量(liang)時(shi)(shi)側頭(tou)與(yu)試(shi)樣表面(mian)保持垂直。⒊時(shi)(shi)代(dai)測(ce)(ce)(ce)厚(hou)儀測(ce)(ce)(ce)量(liang)時(shi)(shi)要(yao)注(zhu)(zhu)意基(ji)體(ti)金(jin)...
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維氏硬度計的壓痕對角線測量 維氏(shi)(shi)法(fa)(fa)中(zhong)壓(ya)(ya)痕對(dui)角線(xian)增(zeng)長與其壓(ya)(ya)痕面積(ji)增(zeng)加(jia)成正(zheng)比，而布氏(shi)(shi)硬(ying)度壓(ya)(ya)痕(d)增(zeng)加(jia)到(dao)一(yi)定程度后，d值變化小面積(ji)變大(da)，這(zhe)時測量(liang)誤(wu)差(cha)對(dui)測量(liang)結果影響較(jiao)大(da)。因此，采(cai)用對(dui)角線(xian)長度計量(liang)的維氏(shi)(shi)法(fa)(fa)較(jiao)布氏(shi)(shi)法(fa)(fa)要精(jing)準。與洛氏(shi)(shi)法(fa)(fa)比較(jiao)，它有(you)一(yi)個統(tong)一(yi)的標尺，可適用于較(jiao)大(da)范圍(wei)變化的硬(ying)度測試，如某(mou)一(yi)種金...