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影響漆膜測厚儀測量準確性的因素 影(ying)響漆膜測(ce)厚(hou)儀測(ce)量準確性的(de)(de)(de)因素(su)a） 基體金(jin)屬磁性質磁性法測(ce)厚(hou)受基體金(jin)屬磁性變化(hua)的(de)(de)(de)影(ying)響（在實際(ji)應(ying)用中(zhong)，低碳鋼磁性的(de)(de)(de)變化(hua)可以(yi)認為(wei)是輕(qing)微的(de)(de)(de)），為(wei)了避免(mian)熱(re)處理和冷加工因素(su)的(de)(de)(de)影(ying)響，應(ying)使用與試(shi)件基體金(jin)屬具有相(xiang)同性質的(de)(de)(de)標(biao)準片對儀器進行校準；亦可用待(dai)涂(tu)覆試(shi)件進行校準。b）基體...
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時代覆層測厚儀故障代號的含意及解決方法 時(shi)(shi)代覆層(ceng)測(ce)厚儀(yi)故(gu)障代號的(de)含意及解決(jue)方法(fa)(fa)E02測(ce)頭或儀(yi)器損壞 解決(jue)辦法(fa)(fa)：修(xiu)理(li)測(ce)頭或儀(yi)器E03測(ce)頭或儀(yi)器損壞 解決(jue)辦法(fa)(fa)：修(xiu)理(li)測(ce)頭或儀(yi)器，應采用(yong)輔(fu)助E04測(ce)量(liang)值發生大(da)的(de)波動（例如在(zai)軟覆蓋(gai)層(ceng)上(shang)測(ce)量(liang)時(shi)(shi)）；磁場(chang)影(ying)響解決(jue)辦法(fa)(fa)：在(zai)軟質覆蓋(gai)層(ceng)上(shang)測(ce)量(liang)時(shi)(shi)應采用(yong)輔(fu)助裝置進行測(ce)量(liang)...
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紅外線測溫儀原理和選型 紅(hong)(hong)(hong)外(wai)(wai)(wai)線測(ce)(ce)溫(wen)儀(yi)(yi)原理和選型了解(jie)更(geng)多(duo)關(guan)于紅(hong)(hong)(hong)外(wai)(wai)(wai)及(ji)紅(hong)(hong)(hong)外(wai)(wai)(wai)測(ce)(ce)溫(wen)儀(yi)(yi)產品(pin)知識，以便更(geng)好的(de)了解(jie)非接(jie)觸測(ce)(ce)量(liang)的(de)原理及(ji)優勢。紅(hong)(hong)(hong)外(wai)(wai)(wai)測(ce)(ce)溫(wen)儀(yi)(yi)工作原理-紅(hong)(hong)(hong)外(wai)(wai)(wai)測(ce)(ce)溫(wen)儀(yi)(yi)由光(guang)(guang)學(xue)系統，光(guang)(guang)電探測(ce)(ce)器，信號(hao)大器及(ji)信號(hao)處理.顯示輸(shu)出等部(bu)分(fen)組成。光(guang)(guang)學(xue)系統匯聚其視場內的(de)目標(biao)紅(hong)(hong)(hong)外(wai)(wai)(wai)輻射能量(liang)，紅(hong)(hong)(hong)外(wai)(wai)(wai)能量(liang)聚焦在光(guang)(guang)電探測(ce)(ce)器上并...
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表面粗糙度的基本知識 一、表面粗(cu)糙度的概念表面粗(cu)糙度是指加工表面具有的較小間距和微小峰谷的不平度。其兩(liang)波(bo)峰或兩(liang)波(bo)谷之間的距離(波(bo)距)很小(在1mm以下)，它屬(shu)于(yu)微觀幾何形(xing)狀誤差(cha)。
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涂層測厚儀的分類以及測量原理 涂層(ceng)(ceng)測(ce)厚(hou)(hou)儀的分類以及測(ce)量原理 對(dui)材料表面保護(hu)、裝飾形(xing)成(cheng)的覆(fu)蓋層(ceng)(ceng)，如涂層(ceng)(ceng)、鍍(du)層(ceng)(ceng)、敷層(ceng)(ceng)、貼層(ceng)(ceng)、化學生成(cheng)膜(mo)等，在有關國家和(he)國際標(biao)準(zhun)中稱(cheng)為覆(fu)層(ceng)(ceng)（coating）。 覆(fu)層(ceng)(ceng)厚(hou)(hou)度測(ce)量已成(cheng)為加(jia)工(gong)(gong)工(gong)(gong)業、表面工(gong)(gong)程質(zhi)量檢測(ce)的重要一環，是產(chan)品(pin)達到優等質(zhi)量標(biao)準(zhun)的必備手段(duan)。為使(shi)產(chan)品(pin)...
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涂層測厚儀的電渦流測量原理 高頻(pin)交流(liu)信號在(zai)測(ce)(ce)頭線圈中產生電磁場，測(ce)(ce)頭靠近(jin)導(dao)體時(shi)，就(jiu)在(zai)其中形成渦(wo)流(liu)。測(ce)(ce)頭離導(dao)電基體愈(yu)近(jin)，則(ze)渦(wo)流(liu)愈(yu)大，反射阻抗也(ye)愈(yu)大。這個反饋作用量表征了測(ce)(ce)頭與導(dao)電基體之間距離的(de)大小(xiao)，也(ye)就(jiu)是導(dao)電基體上(shang)非導(dao)電覆(fu)層厚度(du)的(de)大小(xiao)。由(you)于這類測(ce)(ce)頭專門測(ce)(ce)量非鐵磁金屬基材上(shang)的(de)覆(fu)層厚度(du)，所(suo)...
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表面粗糙度儀工作原理 表面粗(cu)糙度儀工作(zuo)原理當鐵芯處于差動電(dian)感(gan)線圈的(de)中間位(wei)置時，指零(ling)表指針指示出零(ling)位(wei)，即(ji)保證(zheng)處于電(dian)感(gan)變化的(de)線性范圍(wei)之(zhi)內。所(suo)以，在測量之(zhi)前(qian)，必須調整(zheng)指零(ling)表，使其處于零(ling)位(wei)。經(jing)過噪聲濾(lv)(lv)波和(he)波度濾(lv)(lv)波以后，剩下來的(de)就是與被(bei)測表面粗(cu)糙度成(cheng)比例的(de)信號，再經(jing)平均表放大器后，所(suo)輸出的(de)電(dian)...
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時代硬度計的試驗步驟 時代(dai)硬度(du)計是一個品牌，時代(dai)源自北京時代(dai)光南檢(jian)測(ce)公(gong)司。北京時代(dai)光南檢(jian)測(ce)技術有限公(gong)司是專門的(de)力學性能及無損檢(jian)測(ce)儀器生產(chan)廠家，權威度(du)高，時代(dai)的(de)產(chan)品在國內各地(di)都豐富著檢(jian)測(ce)領域。 適(shi)用材料:鋼(gang)和鑄鋼(gang)、合(he)金工具鋼(gang)、不銹鋼(gang)、灰鑄鐵、球墨鑄鐵、鑄鋁(lv)合(he)金、銅鋅合(he)金...
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時代測厚儀使用注意事項 時(shi)代測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)厚(hou)(hou)儀使(shi)用注(zhu)(zhu)意(yi)(yi)(yi)事(shi)項(xiang)(xiang)時(shi)代測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)厚(hou)(hou)儀的(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)方法(fa)主要(yao)(yao)有：磁(ci)性測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)厚(hou)(hou)法(fa)，放射測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)厚(hou)(hou)法(fa)，電解測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)厚(hou)(hou)法(fa)，渦流測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)厚(hou)(hou)法(fa)，超聲(sheng)波測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)厚(hou)(hou)法(fa)。測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量注(zhu)(zhu)意(yi)(yi)(yi)事(shi)項(xiang)(xiang)：⒈在進行測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)的(de)時(shi)候要(yao)(yao)注(zhu)(zhu)意(yi)(yi)(yi)標(biao)準片集(ji)體的(de)金(jin)屬磁(ci)性和表面粗糙度應當與試(shi)件相似。⒉測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量時(shi)側頭與試(shi)樣(yang)表面保(bao)持垂(chui)直。⒊時(shi)代測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)厚(hou)(hou)儀測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量時(shi)要(yao)(yao)注(zhu)(zhu)意(yi)(yi)(yi)基(ji)體金(jin)...
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維氏硬度計的壓痕對角線測量 維氏(shi)法(fa)中壓痕(hen)對角(jiao)線(xian)增(zeng)長與其(qi)壓痕(hen)面積增(zeng)加(jia)成正比(bi)，而布(bu)氏(shi)硬度壓痕(hen)(d)增(zeng)加(jia)到(dao)一(yi)(yi)定程度后(hou)，d值變化(hua)小面積變大，這(zhe)時測(ce)量(liang)誤差對測(ce)量(liang)結果影響較大。因此，采用對角(jiao)線(xian)長度計量(liang)的(de)維氏(shi)法(fa)較布(bu)氏(shi)法(fa)要精準。與洛氏(shi)法(fa)比(bi)較，它(ta)有一(yi)(yi)個統一(yi)(yi)的(de)標尺，可適(shi)用于較大范圍變化(hua)的(de)硬度測(ce)試，如(ru)某一(yi)(yi)種(zhong)金(jin)...